Test promjene temperature: principi, primjene i postupci

Ispitivanje promjene temperature provjerava zadovoljavaju li performanse proizvoda utvrđene standarde, pružajući ključne informacije za poboljšanja dizajna proizvoda, kontrolu kvalitete i prihvaćanje u tvornici. Također poznat kao temperaturni ciklus ili testiranje temperaturnog šoka (testiranje toplinskim šokom), ovaj test prvenstveno procjenjuje prilagodljivost komponenti, opreme i drugih proizvoda na brze promjene temperature okoline tijekom skladištenja, transporta i upotrebe. BOTO GROUP, profesionalni proizvođač opreme za ispitivanje okoliša, kupcima pruža preciznu i pouzdanu opremu za ispitivanje ciklusa temperature, pomažući im da u potpunosti razumiju performanse proizvoda u okruženjima s ekstremnom temperaturom, čime se osigurava pouzdanost i sigurnost proizvoda.

Ovo ispitivanje temelji se na principu toplinskog širenja i skupljanja. Kada je proizvod izložen okolini koja se brzo mijenja temperaturom, njegovi unutarnji materijali stvarat će unutarnje naprezanje zbog brzog toplinskog širenja i skupljanja. Ako to naprezanje premaši granicu tolerancije materijala, uzrokovat će deformaciju ili kvar proizvoda.

Ispitivanje promjene temperature primarno se provodi na materijalnim strukturama i kompozitnim materijalima, obično ciljajući na elektroničke komponente i proizvode-na razini sklopa (kao što su PCBA i IC). BOTO nudi sveobuhvatno ispitivanje performansi i opremu za testiranje pouzdanosti za industriju optoelektronike, poluvodiča, PCB/PCBA i elektroničkih komponenti. Podržavamo prilagođenu opremu na temelju različitih potreba testiranja proizvoda, nudeći-rješenja testiranja na jednom mjestu. Za potrebe nabave opreme za pouzdanost, uvijek ste dobrodošli →kontaktirajte nas.

GBT2423.22 Ispitivanje utjecaja na okoliš - Dio 2: Metode ispitivanja - Test N: Promjena temperature.

Testiranje elektroničkih komponenti: Testiranje pouzdanosti i testiranje proizvoda provodi se na elektroničkim komponentama kako bi se osigurao njihov stabilan rad u složenim temperaturnim okruženjima i procijenila njihova sigurnost i izvedba.

High Accelerated Limit Testing (HALT), High Accelerated Stres Screening (HASS) i High Accelerated Stress Inspection (HASA):

(1) High Accelerated Limit Testing (HALT): Koristi se za brzu procjenu međusobnog naprezanja i mehaničkog naprezanja. Nije prikladan za procjenu životnog vijeka i ne može izračunati srednje vrijeme između kvarova (MTBF). Ovaj test se provodi pod naprezanjima koja daleko premašuju granice navedene u tehničkim specifikacijama, s ciljem izazivanja kvarova, pretvaranja potencijalnih nedostataka u vidljive kvarove, otkrivanja slabosti dizajna i poticanja optimizacije proizvoda. Istovremeno, na temelju graničnih uvjeta koje je odredio HALT, može se razviti shema High Accelerated Stress Screening (HASS) kako bi se eliminirali nedostaci u procesu proizvodnje, omogućujući proizvodima da brzo postignu visoku radnu pouzdanost.

(2) High Accelerated Stress Screening (HASS): proizvodi se provjeravaju pomoću naprezanja znatno viših od očekivanih uvjeta uporabe ili transporta, ali je razina naprezanja ispod praga koji bi značajno utjecao na vijek trajanja proizvoda, a kombinirano naprezanje ne prelazi operativna ograničenja proizvoda. Njegov je temeljni cilj izazvati i razotkriti nedostatke nastale tijekom procesa proizvodnje.

(3) High Accelerated Stress Inspection (HASA): Kao metoda praćenja procesa, uzorci se uzimaju iz proizvodne serije i podvrgavaju HASS stresu kako bi se identificirali mogući nedostaci u proizvodnji.

1. Snizite temperaturu zraka unutar ispitne komore na specificiranu nisku temperaturu TA zadanom brzinom;

2. Nakon što se temperatura unutar komore stabilizira, izložite ispitni uzorak neprekidno niskoj temperaturi TA određeno vrijeme t1;

3. Podignite temperaturu zraka unutar ispitne komore do specificirane visoke temperature TB zadanom brzinom;

4. Nakon što se temperatura unutar komore stabilizira, izložite ispitni uzorak neprekidno visokoj temperaturi TB određeno vrijeme t1;

5. Na kraju, snizite temperaturu zraka unutar ispitne komore na temperaturu okoline laboratorija od 25 stupnjeva ±5K zadanom brzinom.